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一种宽禁带TmSnO半导体薄膜晶体管的制备方法技术
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文档序号:21801986
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本发明涉及一种宽禁带TmSnO半导体薄膜晶体管的制备方法,半导体薄膜晶体管制备方法包括以下步骤:提供一带有二氧化硅介质层的硅衬底,采用磁控溅射法在其上依次制备稀土元素Tm掺杂SnO2有源层,以及ITO透明导电薄膜源漏电极。本发明采用物理方法...
该专利属于复旦大学所有,仅供学习研究参考,未经过复旦大学授权不得商用。
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