下载一种用于芯片加工的具有防尘功能的高精度检测设备的技术资料

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本发明涉及一种用于芯片加工的具有防尘功能的高精度检测设备,包括箱体、检测台、抓取手臂和摄像头,所述检测台设置在箱体内的底部,所述抓取手臂设置在箱体内的一侧,所述箱体的另一侧设有传料口,所述摄像头设置在箱体内,所述摄像头与检测台正对设置,所述...
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