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一种校验处理的方法、装置、计算机存储介质及终端制造方法及图纸
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文档序号:21548093
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一种校验处理的方法、装置、计算机存储介质及终端,包括:对预设数量的完成标注的样例,计算各样例的相关参数信息;根据计算获得的相关参数信息,确定各样例的校验参数信息;根据确定的校验参数信息,选出需要校验的样例,以进行校验处理;其中,所述相关参数...
该专利属于北京明略软件系统有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京明略软件系统有限公司授权不得商用。
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