温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种具有测试键结构的半导体晶元。此半导体晶元包括一半导体基底，其包括一切割道区、一芯片区及位于其间的一密封环区。一测试垫结构及一测试元件设置于切割道区的半导体基底上。一导线设置于密封环区的半导体基底上，且导线的两端延伸至切割道区而...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。