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本发明公开了金属表面电场噪声的检测装置，包括真空腔，还包括设置在真空腔内的芯片支撑架，芯片支撑架上设置有钙原子炉和滤波电路板，滤波电路板的芯片放置孔内设置有离子阱芯片，离子阱芯片上方设置有样品放置架，真空腔上设置有光电倍增管和光学成像镜，真...
该专利属于中国科学院武汉物理与数学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院武汉物理与数学研究所授权不得商用。

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