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本实用新型公开了一种孔位对称度检具，包括基架、两个柱塞和两个圆柱销，所有的所述柱塞和所述圆柱销都固设在所述基架同一平面上，所述平面构成基准面，所有的所述柱塞和所述圆柱销的延伸方向都与所述基准面垂直，两个所述圆柱销关于两个所述柱塞的中心连线对...
该专利属于TOWA半导体设备（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过TOWA半导体设备（苏州）有限公司授权不得商用。

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