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一种基于压控振荡器的低噪声低功耗动态比较器制造技术
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文档序号:21308075
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一种基于压控振荡器的低噪声低功耗动态比较器,可应用于模拟集成电路领域。随着半导体制造工艺的不断进步,集成电路对单一模块的噪声性能、功耗提出了更高的要求。传统基于Latch的比较器需要额外的4倍功耗才能获得1倍的噪声性能的提高,并且其消耗的功...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
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