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本发明涉及一种基于卷积神经网络的TFT‑LCD模组白印检测方法，属于工业缺陷检测领域。该方法包括图像预处理和缺陷检测；图像预处理为：通过相机采集待检测样本；通过仿射变换将待检测的整块模组区域校正为矩形；由于模组的光学干涉效应，相机拍摄的待检...该专利属于重庆信息通信研究院;重庆电子信息中小企业公共服务有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆信息通信研究院;重庆电子信息中小企业公共服务有限公司授权不得商用。