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本发明提出了一种航天器单机测试性评估抽样方法，能够突破现有样本抽样过程中试验样本的故障覆盖不全的技术瓶颈，充分考虑故障覆盖充分性与故障率的约束条件，实现故障模式的单机故障模式的覆盖，并有利于测试性验证的实施。首先通过不同级别的测试性指标参数...
该专利属于北京航天测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京航天测控技术有限公司授权不得商用。

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