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本发明涉及一种基于KB镜聚焦的同步辐射共聚焦荧光实验方法，其包括：将标样的铜系带表面与聚焦X射线的光路方向垂直；得到荧光信号强度与第一Y方向电机的位置的关系曲线图；以共聚焦微元的宽度或高度为单位，将关系曲线图的横坐标划分成n等分，并求取每等...
该专利属于中国科学院上海应用物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海应用物理研究所授权不得商用。

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