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本发明公开了一种基于密集生成对抗神经网络的磁瓦表面缺陷检测方法。对采集到的磁瓦图像进行预处理，制作训练集；构造密集生成对抗神经网络模型，该模型分为生成器和判别器两部分；生成器是一个全卷积密集神经网络，包括若干密集块和转移块；判别器是一个下采...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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