温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种中红外光的全谱测量方法，包括如下步骤：步骤一：使中红外光与泵浦光同时投射到至少两个上转换晶体上发生和频，将所述中红外光上转换为可见光，其中，所述至少两个上转换晶体的上转换波段的总和覆盖所述中红外光的全谱；步骤二：对转换后的可见...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。