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本发明提供一种缺陷检查装置、缺陷检查方法及计算机可读存储介质，能够根据检查对象或背景图像来灵活地利用经事先学习的识别器的技术。所述缺陷检查装置具备：存储部，存储已学习模型和对所述已学习模型设定的内部参数；获取部，获取在规定的条件下所拍摄的检...
该专利属于欧姆龙株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过欧姆龙株式会社授权不得商用。

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