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本发明提供一种二维纳米材料各向异性的快速检测方法，其包括如下步骤：制备二维纳米材料样本；将制备好的所述二维纳米材料样本固定到光学显微镜的载物台上；对所述二维纳米材料样品表面进行加湿；利用光学显微镜对所述二维纳米材料样品表面进行图像采集，获取...
该专利属于深圳大学所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大学授权不得商用。

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