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参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性制造技术
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文档序号:21120582
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本公开涉及参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性。多步骤ADC通过为后续阶段产生数字化的残差来执行多步骤转换。为了产生残余,多步骤ADC中的级将使用前馈数模转换器(DAC)重建到级的输入信号。DAC中的非线性可直接影响多步骤ADC的整体...
该专利属于美国亚德诺半导体公司所有,仅供学习研究参考,未经过美国亚德诺半导体公司授权不得商用。
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