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文档序号:21118877
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本发明提供一种能够提高边缘终端区的雪崩耐量的半导体装置。在边缘终端区(2)中,在有源区(1)与栅极流道部(4)之间的载流子抽出区(5),在p型阱区(51)的表面区域设置p...
该专利属于富士电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士电机株式会社授权不得商用。
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