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文档序号:21066633
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本发明提供一种评价方法、综合评价方法、评价装置及综合评价装置,对半导体器件的辐射噪声进行简便评价,并推定搭载了半导体器件的装置的辐射噪声。该评价方法具备:使通过负载电缆与负载并联连接的半导体器件进行开关动作的阶段;在开关动作过程中测定流过负...
该专利属于富士电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士电机株式会社授权不得商用。
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