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本发明提供一种测试流程动态调整方法及调整系统，包括测试类型调整；所述测试类型调整包括：计算测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；计算测试类型能测坏芯片对应时间总和；根据次数总和和时间总和计算测试类型的权重；按权重重新排序，得到新的测试类型顺序...
该专利属于安庆师范大学;池州华宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安庆师范大学;池州华宇电子科技有限公司授权不得商用。

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