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本公开提供一种毫米波安检系统及方法。毫米波安检系统包括：信息采集装置，其具有毫米波成像机构和可见光成像机构，所述毫米波成像机构生成被检测对象的毫米波图像，所述可见光成像机构生成被检测对象的可见光图像；和数据处理装置，基于所述毫米波图像和可见...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司;清华大学授权不得商用。

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