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本发明提供了一种T/R芯片测试中夹具的识别方法，包括待测夹具和矢量网络分析仪，识别方法包括将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连；选取一个测试频段，在测试频段内均匀的选取50个点，利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比；测试频段的频率上...
该专利属于中电科仪器仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科仪器仪表有限公司授权不得商用。

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