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用于产生具有dV/dt可控性的IGBT的方法技术
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下载用于产生具有dV/dt可控性的IGBT的方法的技术资料
文档序号:21005806
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一种加工功率半导体器件(1)的方法(2)包括:提供具有第一导电类型的漂移区(100)的半导体本体(10);创建(20)多个沟槽(14、15、16),其中该沟槽(14、15、16)沿着垂直方向(Z)延伸到半导体本体(10)中并且沿着第一横向方...
该专利属于英飞凌科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英飞凌科技股份有限公司授权不得商用。
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