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本发明公开了一种生成测试传感器数据的方法和设备。该方法包括：获得初始传感器数据；将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分...
该专利属于富士通株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士通株式会社授权不得商用。

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