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本发明提供了一种质谱串级分析方法，包括如下步骤：离子引入步骤：打开离子阱的离子门；质谱仪的后端盖置于预设电位；部分离子被捕捉；离子囚禁步骤：关闭离子门，所述部分离子稳定在离子阱中心区域；离子隔离步骤：根据主射频方波所占DDS数量和/或隔离时...
该专利属于上海裕达实业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海裕达实业有限公司授权不得商用。

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