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本发明公开了一种大分辨率图像的缺陷检测方法及系统，该方法包括以下步骤：S1：采用一定大小的滑动窗口在缺陷图像上进行横向和纵向滑动，得到若干分区图像；S2：通过基于小分辨率图像训练得到的目标检测模型对每一个分区图像进行缺陷检测，得到一个描述目...
该专利属于武汉精立电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司授权不得商用。

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