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应用崩溃测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:20944203
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本申请提出一种应用崩溃测试方法、装置、电子设备及存储介质,属于计算机应用技术领域。其中,该方法包括:从目标应用的用户群中抽取测试用户;向测试用户推送目标应用的待测试数据,以使测试用户利用待测试数据对目标应用进行修改;获取已修改目标应用的各测...
该专利属于北京金山安全软件有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京金山安全软件有限公司授权不得商用。
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