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本发明公开了一种用于监控OLED面板蚀刻深度的测试键及一种OLED大板，所述测试键包括：一扫描基线区，所述扫描基线区的一膜层结构依序包括：一透光基材、一阻隔缓冲层、一主动层、第一栅极绝缘层、一第一栅极金属层、一第二栅极绝缘层、一第二栅极金属...
该专利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

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