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本发明属于工业自动化测量领域，并具体公开了一种基于三维测量点云的零件表面缺陷识别与评估方法，其包括如下步骤：利用光栅式面阵扫描仪采集待测零件的表面点云数据；将采集的点云数据与零件设计模型点云数据进行匹配，获取点云数据的最近点集合数据；根据点...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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