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本发明公开一种航天电子产品的空间辐射可靠性评估方法，该方法包括故障物理分析、建立空间辐射相关故障信息矩阵并分类收集所述物理模型的参数、单粒子效应仿真、总剂量效应仿真、位移损伤效应仿真、以及考虑空间故障机理间的相互关系，分析单粒子效应、总剂量...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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