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本发明公开了一种VPX总线的无源串行通道测试电路板,包括两件VPX测试子卡电路板和一件VPX测试背板电路板;VPX测试子卡电路板上设置了校准及影响因素测试区和VPX子卡模拟测试区;VPX测试背板电路板上设置了VPX背板模拟测试区和校准及玻纤...该专利属于中国电子科技集团公司第三十研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第三十研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种VPX总线的无源串行通道测试电路板,包括两件VPX测试子卡电路板和一件VPX测试背板电路板;VPX测试子卡电路板上设置了校准及影响因素测试区和VPX子卡模拟测试区;VPX测试背板电路板上设置了VPX背板模拟测试区和校准及玻纤...