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本发明属于CT成像技术领域，特别涉及一种基于直线扫描轨迹的双能CT成像系统及方法，该方法包含：对待扫描物体进行直线轨迹CT扫描，通过低能投影数据获取路径获得低能投影数据，通过高能投影数据获取路径获得高能投影数据，两段路径长度相等，待扫描物体...
该专利属于中国人民解放军战略支援部队信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军战略支援部队信息工程大学授权不得商用。

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