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本公开涉及用于物体异常检查的物体检查系统。该物体检查系统包括：光照设备，被配置为照射待检查的物体；摄像设备，被配置为在光照设备的照射下对待检查的物体进行图像拍摄；以及其中，光照设备包括：曲面光罩，曲面光罩具有凹陷曲面，凹陷曲面被布置为朝向待...
该专利属于英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司授权不得商用。

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