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本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，尤其为一种便于取拿的COC老化测试设备，包括测试箱，测试箱的上方设有控制区，控制区的一侧设有测试区，测试区的下方设有存取区，存取区的一侧铰接有柜门，柜门的一侧连接有连杆；本实用新型将柜门和测试台通过连杆铰...
该专利属于天津市菲莱科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津市菲莱科技有限公司授权不得商用。

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