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本发明公开一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法，包括以下步骤：(1)利用扫描式三坐标测量机得到被测件的原始测点数据集，计算原始测点数据集内的点与被测件设计模型表面之间的偏差，并绘制偏差曲线；(2)利用小波分解将偏差曲线分解成三部分...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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