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本实用新型为一种多路数字光模块误码率的测试装置，本装置CPU连接的FPGA接多个电光转换单元E/O和光电转换单元O/E，E/O和O/E连接待测数字光模块，CPU连接上位机接收参数设置并将测试结果返回上位机。待测数字光模块连接在本装置的E/O...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十四研究所授权不得商用。

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