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本发明公开一种保证多晶硅片或类单晶硅片质量稳定性的方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一：测试晶砖一侧面少子寿命情况；步骤二：根据所述侧面少子寿命情况，将晶砖截断得到尾料、可切片晶砖、头料、杂质层；步骤三：测试头料下截断面的少子寿命情况；步骤...
该专利属于包头美科硅能源有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过包头美科硅能源有限公司授权不得商用。

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