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本发明提供了SoC激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统：(1)对待测芯片测试区域镂空处理；(2)若进行动态测试，选择某一模块的功能测试程序，开始功能测试，将测试结果输出；(3)若进行静态测试，则PLL时钟旁路，且停止时钟信号输入，通过...该专利属于北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所授权不得商用。