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本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式：注册模式，用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对；认证模式，用于验证测试者的权限；测试模式，用于测试集成电路；功能模式，用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块：Bia...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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