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本发明提供了提供一种半导体器件射频指标final test系统及方法，针对测试效率较低的问题，硬件上考虑自动上下料、自动测试、用外加IO进行与分选机构通信从而实现测试节拍控制等措施，还从软件上进行优化，提高测试效率；为了解决校准对测试结果准...
该专利属于成都天衡智造科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都天衡智造科技有限公司授权不得商用。

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