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本发明公开了一种复合绝缘子与标准型盘形悬式绝缘子积污比值的计算方法。目前，复合绝缘子与标准型盘形悬式绝缘子的积污差异需要通过对现场悬挂的污秽测试串进行等值盐密、等值灰密测试得到，污秽累积时间需要2‑3年，所需时间较长，且悬挂污秽测试串、开展...
该专利属于国网浙江省电力有限公司电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国网浙江省电力有限公司电力科学研究院授权不得商用。

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