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本发明涉及一种基于JTAG测试的SiP系统及其内部芯片的JTAG测试方法。所述SiP包括JTAG测试访问端口、至少两个服从JTAG协议的芯片，记为首位JTAG芯片和末位JTAG芯片，JTAG测试访问端口的测试输入端连接在首位JTAG芯片的J...该专利属于北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所授权不得商用。