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本发明提供了一种用于检测电路板质量的检测方法，其首先通过比较光电传感器检测光源经过标准孔和待测孔后光照强度的差异来判断过孔的质量，如：孔的位置、孔径和孔的堵塞状况等，当待测孔的光照强度与相应的标准孔的光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，则...
该专利属于江门市利诺达电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江门市利诺达电路科技有限公司授权不得商用。

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