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本发明提供了一种光栅无损检测方法及系统，方法包括：获取样品光栅图像；对样品光栅图像进行背景校正，获得样品光栅透射图；对样品光栅透射图提取样本区域进行分析，获得样品光栅透射图的像素灰度平均值；根据样本区域以及像素灰度平均值判断样品光栅的均匀性...
该专利属于合刃科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合刃科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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