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确定逻辑存储单元性能的方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:20724300
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本申请提供了一种确定逻辑存储单元存储性能的方法及装置。该方法包括:获取第一逻辑存储单元LUN的性能参数,性能参数包括带宽、队列深度、每秒进行读写操作的次数IOPS以及IO分布中的至少一种,第一LUN为存储系统中的任意一个LUN;根据第一LU...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
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