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本发明涉及校准校验技术领域，具体公开了一种电量管理IC的烧录校准校验方法，所述方法包括：通过上位机软件测试计算出IC产品的电流校准值，然后写入产品临时RAM区，再通过产品机制，实时验证产品写入电流校准值后，产品充电电流输出值是否符合规格，本...
该专利属于惠州市蓝微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市蓝微电子有限公司授权不得商用。

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