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用于管道的X射线检查系统。一种用于扫描细长结构的方法和系统。通过使用扫描系统中的平移结构使扫描系统中的扫描仪沿着细长结构轴向地移动。随着扫描仪沿着细长结构轴向地移动，轴向地扫描细长构件。使扫描仪在轴向扫描期间检测到不一致的位置处围绕细长结构...
该专利属于波音公司所有，仅供学习研究参考，未经过波音公司授权不得商用。

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