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本发明公开了一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法，半球型测试暗室的顶部设有通光孔，通光孔的正上方设有测试光源；半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有光电探测器与信号处理系统相连；半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样...
该专利属于北京工业大学;北京空间机电研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学;北京空间机电研究所授权不得商用。

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