下载一种SiC MOSFET栅氧化层退火方法的技术资料

文档序号:20567845

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本发明涉及一种SiC MOSFET栅氧化层退火方法,包括:制备SiC外延片;在所述SiC外延片上生长SiO2栅氧化层;在惰性气体与Cl2混合气体环境条件下,对所述SiO2栅氧化层进行退火处理。本发明使用惰性气体与Cl2混合气体退火SiC M...
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