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本发明提供的是一种高精度单光子探测芯片实时温度测量及性能优化系统。其特征是：它由光源1、可控偏压模块2、单光子探测芯片3、信号处理及控制系统4组成，其中单光子探测芯片3由正常模式运行的单光子雪崩二极管31、暗环境下运行的单光子雪崩二极管32...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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