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本发明公开了一种CCD成像光谱仪图像校正方法，通过建立CCD成像光谱仪前向数据模型将CCD成像过程中的偏差和噪声公式化，作为后期光谱图像数据校正流程的反向步骤。在光谱成像建模的过程中，需要使用实验室定标的相应参数。首先，加入暗电流温度校正因...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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