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本发明提供能够减小膜的缺陷与标记之间的间隔且能够抑制膜的缺陷信息的记录遗漏产生的缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法。缺陷记录系统具备：检查部，其设置在膜的输送路径上，对膜的缺陷进行检查；印刷部，其在输送路径中设置于检查部的下游，在膜上...
该专利属于住友化学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过住友化学株式会社授权不得商用。

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